正置金相显微镜与台式不同之点是观察时物镜向上，而物体表面向下，且准确度较高，应用范围较广，它可以用明区观察，也可以用暗区观察。其镜头在载物台上面，将试块试面朝上放在载物台上，此时镜头在上，试块正置在上，镜头从上向下对试面进行观测。广泛应用于金相、岩相、集成电路、晶体等领域内的检验及科学研究工作。
正置金相显微镜在观察时成像为正像，这对使用者的观察与辨别带来了极大的方便，除了对20-30mm高度的金属试样作分析鉴定外，由于符合人的日常习惯，因此更广泛的应用于透明，半透明或不透明物质。大于3微米小于20微米观察目标，比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹，都能有很好的成像效果。另外外置摄相系统可以方便的连接视屏和计算机进行实时和静动态的图像观察、保存和编辑、打印结合各种软件能进行更的金相、测量、互动教学领域的需要。
正置金相显微镜产品特点：
1，采用双倍无限色彩校正和对比度增强（ICCS）光学系统为用户提供最清晰的图像用户正置显微镜。
2，直立式显微镜更高质量的光学元件，较好的颜色校正，从而获得优异的对比度和高的分辨率。
3，新的照明概念为优异的图像质量，XIO成像A2M以新的照明系统，最大限度地减少了图像的杂散光的干扰和失真，以便获得最佳的图像的对比度。
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